См. Форму N 1-Мониторинг за 2014 год (утв. Минобрнауки России 30.01.2015 N АК-6/05вн), Методические указания по заполнению формы (утв. Минобрнауки России 10.03.2015 N АК-15/05вн), Методику расчета показателей (утв. Минобрнауки России 30.03.2015 N АК-31/05вн). Порядок предоставления данных за 2015 год (Письмо Минобрнауки России от 21.03.2016 N АК-586/05).

3.2.5. Патентная активность

32. При заполнении данного раздела целесообразно использовать методические указания к подразделу 8.2 формы 2-наука (ИНВ).

По строке 01 указывается информация по изобретениям.

По строке 02 указывается информация по полезным моделям.

По строке 03 указывается информация по промышленным образцам.

По строке 04 указывается информация по товарным знакам.

По строке 05 указывается информация по базам данных.

По строке 06 указывается информация по топологии интегральных микросхем.

По строке 07 указывается информация по программам для ЭВМ.

По строке 08 указывается информация по селекционным достижениям.

В графах 3 - 4 показывается число заявок на получение патентов (свидетельств), поданных в России и за рубежом.

В графах 5 - 6 приводится число патентов (свидетельств), полученных в России и за рубежом.

В графах 7 - 8 указывается число действующих (поддерживаемых) патентов (свидетельств), полученных в России и за рубежом.