03.00.00.00.00
|
Оборудование для исследования структуры и состава веществ и материалов
|
03.01.00.00.00
|
Приборы для микроскопических исследований
|
03.01.01.00.00
|
Микроскопы электронные
|
03.01.01.01.00
|
Микроскопы электронные сканирующие (растровые)
|
03.01.01.01.01
|
Микроскопы электронные сканирующие с приставкой EDX-анализа
|
03.01.01.01.02
|
Микроскопы электронные сканирующие с приставкой EBIC-анализа
|
03.01.01.01.03
|
Микроскопы сканирующие высокого разрешения
|
03.01.01.01.04
|
Микроскопы сканирующие для работы в низком вакууме
|
03.01.01.01.05
|
Микроскопы электронные сканирующие с приставкой для микротомографического анализа
|
03.01.01.02.00
|
Микроскопы просвечивающие
|
03.01.01.02.01
|
Микроскопы просвечивающие с приставкой для анализа электронной дифракции
|
03.01.01.02.02
|
Микроскопы просвечивающие с приставкой для рентгеновского микроанализа
|
03.01.01.02.03
|
Микроскопы просвечивающие с приставкой для элементного микроанализа
|
03.01.01.02.04
|
Микроскопы просвечивающие с прочими приставками для микроанализа
|
03.01.01.02.05
|
Микроскопы просвечивающие сверхвысокого разрешения
|
03.01.01.02.06
|
Микроскопы просвечивающие с приставкой для анализа спектров характеристических потерь энергии электронов
|
03.01.01.02.07
|
Микроскопы просвечивающие с химической средой в камере образца
|
03.01.01.03.00
|
Микроскопы электронные прочие
|
03.01.01.03.01
|
Микроскопы электронные с приставкой фокусированного ионного пучка
|
03.01.01.03.02
|
Микроскопы электронные, снабженные оборудованием, специально разработанным для манипулирования и перемещения полупроводниковых пластин или фотошаблонов
|
03.01.01.03.03
|
Микроскопы электронные трансмиссионные
|
03.01.01.03.04
|
Микроскопы электронные отражательные
|
03.01.01.03.05
|
Микроскопы электронные эмиссионные
|
03.01.01.03.06
|
Микроскопы электронные зеркальные
|
03.01.01.03.07
|
Микроскопы низковольтные трансмиссионные
|
03.01.02.00.00
|
Микроскопы оптические
|
03.01.02.01.00
|
Стереомикроскопы
|
03.01.02.01.01
|
Микроскопы стереоскопические, снабженные оборудованием, специально разработанным для манипулирования и перемещения полупроводниковых пластин или фотошаблонов
|
03.01.02.01.02
|
Микроскопы стереоскопические прочие
|
03.01.02.01.03
|
Микроскопы для микрофотосъемки, микрокиносъемки или микропроецирования
|
03.01.02.01.04
|
Микроскопы для микрофотосъемки, снабженные оборудованием, специально разработанным для манипулирования и перемещения полупроводниковых пластин или фотошаблонов
|
03.01.02.02.00
|
Микроскопы оптические ближнепольные
|
03.01.02.03.00
|
Микроскопы конфокальные сканирующие
|
03.01.02.04.00
|
Микроскопы флуоресцентные лазерные
|
03.01.02.04.01
|
Микроскопы лазерные конфокальные
|
03.01.02.04.02
|
Микроскопы лазерные сканирующие
|
03.01.02.04.03
|
Микроскопы 3D-сканирующие лазерные конфокальные
|
03.01.02.04.04
|
Микроскопы лазерные двухфотонные
|
03.01.02.04.05
|
Микроскопы лазерные на основе подавления флуоресцентного излучения (STED)
|
03.01.02.04.06
|
Микроскопы лазерные на основе фотоактивированной локализации (PALM)
|
03.01.02.04.07
|
Микроскопы лазерные сверхвысокого разрешения (прочие)
|
03.01.02.05.00
|
Микроскопы оптические прочие
|
03.01.02.05.01
|
Микроскопы световые общего назначения
|
03.01.02.05.02
|
Микроскопы световые специализированные
|
03.01.02.05.03
|
Микроскопы световые с дистанционным управлением
|
03.01.02.05.04
|
Микроскопы световые для анализа изображения
|
03.01.02.05.05
|
Микроскопы биологические
|
03.01.02.05.06
|
Микроскопы металлографические
|
03.01.02.05.07
|
Микроскопы геолого-рудные
|
03.01.02.05.08
|
Микроскопы интерференционные
|
03.01.02.05.09
|
Микроскопы поляризационные
|
03.01.02.05.10
|
Микроскопы флуоресцентные (наноскопы)
|
03.01.02.05.11
|
Микроскопы ультрафиолетовые (люминесцентные)
|
03.01.02.05.12
|
Микроскопы энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные
|
03.01.02.05.13
|
Микроскопы дифференциальные интерференционно-контрастные
|
03.01.02.05.14
|
Микроскопы фазово-контрастные
|
03.01.02.05.15
|
Микроскопы инвертированные
|
03.01.02.05.16
|
Микроскопы инфракрасные
|
03.01.02.05.17
|
Микроскопы комбинационного рассеяния
|
03.01.02.05.18
|
Микроскопы-фотометры
|
03.01.02.05.19
|
Микроскопы высокотемпературные
|
03.01.02.05.20
|
Микродиссекторы
|
03.01.02.05.21
|
Видеомикроскопы оптические
|
03.01.02.05.22
|
Фотомикроскопы
|
03.01.03.00.00
|
Протонные и другие ионные микроскопы
|
03.01.03.01.00
|
Микроскопы протонные
|
03.01.03.02.00
|
Микроскопы ионные полевые
|
03.01.03.03.00
|
Микроскопы ионные сканирующие
|
03.01.03.04.00
|
Микроскопы ионные прочие
|
03.01.04.00.00
|
Оборудование для рентгеновской микроскопии и микротомографии
|
03.01.04.01.00
|
Микроскопы рентгеновские отражательные
|
03.01.04.02.00
|
Микроскопы рентгеновские проекционные
|
03.01.04.03.00
|
Микроскопы рентгеновские лазерные
|
03.01.04.04.00
|
Микротомографы
|
03.01.04.04.01
|
Микротомографы лабораторные рентгеновские
|
03.01.04.04.02
|
Микротомографы рентгеновские высокого разрешения с возможностью автоматической подачи образцов и улучшенной геометрией сканирования
|
03.01.04.04.03
|
Микротомографы рентгеновские с высокой энергией излучения для неразрушающей визуализации внутренней пространственной микроструктуры объекта
|
03.01.04.04.04
|
Микротомографы рентгеновские для in vivo исследований
|
03.01.04.04.05
|
Микротомографы рентгеновские высокого разрешения с малой дозой облучения для проведения in vivo исследований малых лабораторных животных (крыс, мышей, конечностей кроликов)
|
03.01.04.04.06
|
Микротомографы рентгеновские универсальные для биомедицинских исследований
|
03.01.04.04.07
|
Микротомографы рентгеновские высокой энергии со спиральным сканированием
|
03.01.04.04.08
|
Нанотомографы рентгеновские
|
03.01.04.04.09
|
Микротомографы рентгеновские с возможностью картирования вещества в объеме по сигналу рентгеновской флюоресценции
|
03.01.05.00.00
|
Микроскопы зондовые сканирующие
|
03.01.05.01.00
|
Микроскопы атомно-силовые
|
03.01.05.01.01
|
Микроскопы атомно-силовые сканирующие
|
03.01.05.01.02
|
Микроскопы-томографы атомно-силовые
|
03.01.05.01.03
|
Микроскопы атомно-силовые атомарного разрешения
|
03.01.05.01.04
|
Микроскопы атомно-силовые сверхвысоковакуумные
|
03.01.05.02.00
|
Микроскопы магнитно-силовые
|
03.01.05.03.00
|
Микроскопы туннельные
|
03.01.05.03.01
|
Микроскопы туннельные сверхвысоковакуумные
|
03.01.05.03.02
|
Микроскопы туннельные сканирующие зондовые
|
03.01.05.03.03
|
Модули наносклерометрические
|
03.01.05.03.04
|
Комплексы на базе микроскопов туннельных
|
03.01.05.04.00
|
Микроскопы зондовые ближнепольные
|
03.01.05.05.00
|
Микроскопы зондовые прочие
|
03.02.00.00.00
|
Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие
|
03.02.01.00.00
|
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
|
03.02.01.01.00
|
Эллипсометры
|
03.02.01.01.01
|
Эллипсометры одноволновые
|
03.02.01.01.02
|
Эллипсометры спектральные
|
03.02.01.02.00
|
Оже-электронные спектрометры
|
03.02.01.02.01
|
Оже-электронные спектрометры с анализатором "цилиндрическое зеркало"
|
03.02.01.02.02
|
Оже-электронные спектрометры с полусферическим анализатором
|
03.02.01.03.00
|
Фотоэлектронные спектрометры
|
03.02.01.03.01
|
Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС)
|
03.02.01.03.02
|
Ультрафиалетовые фотоэлектронные спектрометры (УФЭС)
|
03.02.01.04.00
|
Спектрометры потерь энергии электронов высокого разрешения (HREELS)
|
03.02.01.05.00
|
Спектроскопия рассеянных ионов низких (LEIS) и средних (MEIS) энергий
|
03.02.01.06.00
|
Спектроскопия рассеянных ионов высоких энергий (резерфордовское обратное рассеяние, RBS) и каналирование
|
03.02.01.07.00
|
Спектроскопия упруго отраженных атомов отдачи (Elastic recoil detection analysis, ERDA)
|
03.02.01.08.00
|
Рентгеновская рефлектометрия
|
03.02.01.09.00
|
Спектрометры рентгеновские флуоресцентные полного отражения (Total Reflection X-ray Fluorescence)
|
03.02.01.10.00
|
Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности
|
03.02.01.11.00
|
Микроанализаторы поверхности
|
03.02.01.11.01
|
Микроанализаторы электронно-зондовые
|
03.02.01.11.02
|
Микроанализаторы рентгеноспектральные и рентгенофлюоресцентные
|
03.02.01.11.03
|
Микроанализаторы вторично-ионные (сканирующие вторично-ионные масс-спектрометры, SIMS)
|
03.02.01.11.04
|
Микроанализаторы вторичных нейтральных атомов масс-спектрометрические (Secondary neutral mass spectrometry, SNMS)
|
03.02.01.11.05
|
Микроанализаторы масс-спектрометрические с лазерной ионизацией (LAMMA, MALDI-MS)
|
03.02.01.11.06
|
Микроанализаторы лазерные
|
03.02.01.11.07
|
Микроанализаторы прочие
|
03.02.01.12.00
|
Рентгеновские дифрактометры с оптикой параллельного пучка
|
03.02.01.12.01
|
времяпролетные масс-спектрометры (TOF SIMS)
|
03.02.01.12.02
|
Магнитосекторные масс-спектрометры (Динамический D-SIMS)
|
03.02.01.12.03
|
Квадрупольные масс-спектрометры
|
03.02.02.00.00
|
Приборы для исследования и анализа пористости и величины поверхности
|
03.02.02.01.00
|
Приборы, использующие адсорбцию газов
|
03.02.02.02.00
|
Порометры ртутные
|
03.02.02.03.00
|
Приборы для анализа площади поверхности и кислотности
|
03.02.02.04.00
|
Приборы, использующие эталонный образец
|
03.02.02.05.00
|
Приборы для анализа поверхности и пористости прочие
|
03.02.03.00.00
|
Приборы для исследования рельефа поверхности и покрытий
|
03.02.03.01.00
|
Профилометры
|
03.02.03.01.01
|
Профилометры бесконтактные оптические
|
03.02.03.01.02
|
Профилометры механические стилусные
|
03.02.03.01.03
|
Наноинденторы
|
03.02.03.01.04
|
Профилометры прочие
|
03.02.03.02.00
|
Интерферометры для исследования поверхности
|
03.02.03.03.00
|
Приборы с использованием светорассеяния
|
03.02.04.00.00
|
Приборы для обработки поверхности материалов
|
03.02.04.01.00
|
Приборы для обработки поверхности электронно-лучевые
|
03.02.04.02.00
|
Приборы для обработки поверхности ионно-лучевые
|
03.02.04.03.00
|
Приборы для вакуумного напыления
|
03.02.04.04.00
|
Приборы для ионной имплантации
|
03.02.04.05.00
|
Приборы для модификации поверхности прочие
|
03.02.05.00.00
|
Приборы и аппаратура для спектрального и прецизионного анализа свойств наноматериалов прочие
|
03.02.05.01.00
|
Анализаторы количества и размера частиц дисперсий
|
03.02.05.01.01
|
Приборы для седиментационного анализа
|
03.02.05.01.02
|
Приборы кондуктометрического анализа
|
03.02.05.01.03
|
Приборы малоуглового рассеяния
|
03.02.05.01.04
|
Прочие приборы
|
03.03.00.00.00
|
Оборудование и приборы для спектрометрии ядерного магнитного резонанса
|
03.03.01.00.00
|
Спектрометры ЯМР
|
03.03.01.01.00
|
ЯМР-спектрометры твердотельные
|
03.03.01.02.00
|
ЯМР-спектрометры жидкостные
|
03.03.01.02.01
|
ЯМР-спектрометры высокого разрешения
|
03.03.01.02.02
|
ЯМР-спектрометры широких линий
|
03.03.02.00.00
|
ЯМР-томографы
|
03.03.03.00.00
|
ЯМР-релаксометры
|
03.03.04.00.00
|
ЯМР-спектрометры ядерного квадрупольного резонанса
|
03.03.05.00.00
|
ЯМР-спектрометры прочие
|
03.04.00.00.00
|
Оборудование и приборы для масс-спектрометрии
|
03.04.01.00.00
|
Масс-спектрометры для изотопного анализа
|
03.04.01.01.00
|
Масс-спектрометры термоионизационные
|
03.04.01.02.00
|
Масс-спектрометры времяпролетные
|
03.04.01.03.00
|
Масс-спектрометры магнитные
|
03.04.02.00.00
|
Масс-спектрометры для элементного анализа
|
03.04.02.01.00
|
Масс-спектрометры с ионизацией в индуктивно-связанной плазме
|
03.04.02.02.00
|
Масс-спектрометры с ионизацией в тлеющем разряде
|
03.04.02.03.00
|
Масс-анализаторы элементные
|
03.04.02.04.00
|
Масс-спектрографы
|
03.04.02.05.00
|
Камеры ионизационные
|
03.04.03.00.00
|
Масс-спектрометры для химического анализа и определения структуры веществ
|
03.04.03.01.00
|
Масс-спектрометры с ионизацией электронным ударом
|
03.04.03.02.00
|
Масс-спектрометры с ионизацией бомбардировкой быстрыми атомами
|
03.04.03.03.00
|
Масс-спектрометры с химической ионизацией
|
03.04.03.04.00
|
Масс-спектрометры с лазерной ионизацией
|
03.04.03.05.00
|
Масс-спектрометры для химического анализа и определения структуры с другими видами ионизации
|
03.05.00.00.00
|
Спектрометры электронного парамагнитного резонанса
|
03.05.01.00.00
|
ЭПР-спектрометры малогабаритные
|
03.05.02.00.00
|
ЭПР-анализаторы медико-биологических материалов
|
03.05.03.00.00
|
ЭПР Фурье спектрометры
|
03.05.04.00.00
|
CW-спектрометры электронного парамагнитного резонанса
|
03.05.05.00.00
|
Импульсные ЭПР-спектрометры
|
03.05.06.00.00
|
ЭПР-спектрометры с приставкой для измерения спинового эха
|
03.06.00.00.00
|
Оборудование для исследования и анализа методом оптической спектроскопии
|
03.06.01.00.00
|
ИК-спектрометры
|
03.06.01.01.00
|
ИК-спектрометры Фурье
|
03.06.01.02.00
|
ИК-спектрометры для in-situ анализа
|
03.06.01.03.00
|
ИК-спектрофотометры
|
03.06.01.04.00
|
ИК-спектрометры с приставками
|
03.06.01.05.00
|
Прочие ИК-спектрометры
|
03.06.02.00.00
|
Спектрометры УФ и видимого диапазона
|
03.06.02.01.00
|
УФ-спектрофотометры
|
03.06.02.02.00
|
Спектрометры вакуумные для УФ-области
|
03.06.02.03.00
|
Спектрометры обычные для УФ-области
|
03.06.02.04.00
|
Спектрометры УФ-Вид с приставками для анализа твердых образцов
|
03.06.02.05.00
|
Спектрометры УФ-Вид с приставками для кинетических измерений
|
03.06.03.00.00
|
Спектрометры комбинационного рассеяния
|
03.06.04.00.00
|
Монохроматоры
|
03.06.04.01.00
|
Монохроматоры призменные
|
03.06.04.02.00
|
Монохроматоры с дифракционными решетками
|
03.06.05.00.00
|
Оборудование для оптической спектроскопии прочее
|
03.06.05.01.00
|
Квантометры
|
03.06.05.02.00
|
Рефрактометры
|
03.06.05.03.00
|
Поляриметры
|
03.06.05.04.00
|
Полярографы
|
03.06.05.05.00
|
Интерферометры для оптической спектроскопии
|
03.06.05.05.01
|
Интерферометры-коррелометры
|
03.06.05.05.02
|
Спектрометры интерферометрические для анализа комбинационного рассеяния света
|
03.06.05.06.00
|
Прочие
|
03.06.06.00.00
|
Оборудование для люминесцентного анализа
|
03.06.06.01.00
|
Люминесцентные спектрометры
|
03.06.06.02.00
|
Прочее оборудование для люминесцентного анализа
|
03.06.07.00.00
|
Приставки к ИК- и КР-спектрометрам
|
03.07.00.00.00
|
Оборудование для исследования с использованием хроматографических методов анализа
|
03.07.01.00.00
|
Оборудование для газовой и газожидкостной хроматографии
|
03.07.01.01.00
|
Анализаторы газохроматографические
|
03.07.01.02.00
|
Хроматографы газовые и газожидкостные одномерные
|
03.07.01.02.01
|
Хроматографы газовые и газожидкостные с детектором по теплопроводности
|
03.07.01.02.02
|
Хроматографы газовые и газожидкостные с пламенно-ионизационным детектором
|
03.07.01.02.03
|
Хроматографы газовые и газожидкостные с детектором электронного захвата
|
03.07.01.02.04
|
Хроматографы газовые и газожидкостные с атомно-адсорбционным детектором
|
03.07.01.02.05
|
Хроматографы газовые и газожидкостные с пламенно-фотометрическим детектором
|
03.07.01.02.06
|
Хроматографы газовые и газожидкостные с фотоионизационным детектором
|
03.07.01.02.07
|
Хроматографы газовые и газожидкостные с ИК-детектором
|
03.07.01.02.08
|
Хроматографы газовые и газожидкостные с масс-спектрометрическим детектированием
|
03.07.01.02.09
|
Хроматографы газовые и газожидкостные с другими детекторами или несколькими детекторами
|
03.07.01.03.00
|
Хроматографы газовые и газожидкостные двумерные
|
03.07.01.03.01
|
Хроматографы газовые и газожидкостные GC-GC
|
03.07.01.03.02
|
Хроматографы газовые и газожидкостные GCxGC
|
03.07.01.04.00
|
Оборудование для газовой и газожидкостной хроматографии прочее
|
03.07.01.04.01
|
Генераторы водорода
|
03.07.01.04.02
|
Генераторы воздуха
|
03.07.01.04.03
|
Оборудование прочее
|
03.07.02.00.00
|
Оборудование для жидкостной хроматографии
|
03.07.02.01.00
|
Хроматографы жидкостные низкого давления
|
03.07.02.01.01
|
Хроматографы жидкостные низкого давления с рефрактометрическим детектированием
|
03.07.02.01.02
|
Хроматографы жидкостные низкого давления с УВ-вид детектированием
|
03.07.02.01.03
|
Приборы для тонкослойной жидкостной хроматографии
|
03.07.02.01.04
|
Оборудование для жидкостной хроматографии низкого давления прочее
|
03.07.02.02.00
|
Хроматографы жидкостные высокого давления (ВЭЖХ)
|
03.07.02.02.01
|
Хроматографы жидкостные высокого давления с УФ детектором
|
03.07.02.02.02
|
Хроматографы жидкостные высокого давления с рефрактометрическим детектором
|
03.07.02.02.03
|
Хроматографы жидкостные высокого давления с детектором диодная матрица
|
03.07.02.02.04
|
Хроматографы жидкостные высокого давления с электрохимическим детектированием
|
03.07.02.02.05
|
Хроматографы жидкостные высокого давления с масс-спектрометрическим детектированием
|
03.07.02.02.06
|
Хроматографы жидкостные высокого давления с детектором по светорассеянию
|
03.07.02.02.07
|
Хроматографы жидкостные высокого давления с ИК-детектором
|
03.07.02.02.08
|
Хроматографы жидкостные высокого давления с флюориметрическим детектором
|
03.07.02.02.09
|
Хроматографы жидкостные высокого давления с прочими типами детекторов или с несколькими детекторами
|
03.07.02.03.00
|
Оборудование для ионной хроматографии
|
03.07.02.04.00
|
Оборудование для гель-хроматографии
|
03.07.02.04.01
|
Гель-хроматографы высокотемпературные
|
03.07.02.04.02
|
Гель-хроматографы прочие
|
03.07.02.04.03
|
Оборудование для гель-хроматографии прочее
|
03.07.02.05.00
|
Оборудование для жидкостной хроматографии прочее
|
03.07.03.00.00
|
Оборудование для электрофореза
|
03.08.00.00.00
|
Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее
|
03.08.01.00.00
|
Спектрометры рентгенофлуоресцентные
|
03.08.01.01.00
|
Спектрометры рентгенофлуоресцентные с кристаллами-анализаторами
|
03.08.01.02.00
|
Спектрометры рентгенофлуоресцентные волнодисперсионные
|
03.08.01.03.00
|
Спектрометры рентгенофлуоресцентные энергодисперсионные
|
03.08.02.00.00
|
Спектрометры-монохроматоры рентгеновские
|
03.08.03.00.00
|
Спектрометры атомно-абсорбционные
|
03.08.03.01.00
|
Спектрометры атомно-абсорбционные с электротермической атомизацией
|
03.08.03.02.00
|
Спектрометры атомно-абсорбционные с атомизацией в пламени
|
03.08.04.00.00
|
Спектрометры и спектрофотометры атомно-абсорбционные скользящего падения
|
03.08.05.00.00
|
Спектрометры и спектрофотометры атомно-эмиссионные и эмиссионные
|
03.08.06.00.00
|
Спектрометры эмиссионные с индуктивно-связанной плазмой
|
03.08.07.00.00
|
Спектрофотометры пламенные
|
03.09.00.00.00
|
Оборудование для исследования строения вещества дифракционными методами
|
03.09.01.00.00
|
Оборудование для рентгеновской дифракции
|
03.09.01.01.00
|
Дифрактометры Гинье
|
03.09.01.02.00
|
Дифрактометры рентгеновские монокристальные
|
03.09.01.03.00
|
Дифрактометры рентгеновские порошковые
|
03.09.01.04.00
|
Дифрактометры рентгеновские специальные
|
03.09.01.05.00
|
Дифрактометры рентгеновские с вращающимся анодом
|
03.09.01.06.00
|
Дифрактометры рентгеновские малоугловые
|
03.09.01.07.00
|
Дифрактометры рентгеновские скользящего падения, GISAX
|
03.09.02.00.00
|
Оборудование для дифракции электронов
|
03.09.02.01.00
|
Электронографы
|
03.09.02.02.00
|
Дифрактометры медленных электронов (для анализа поверхности), LEED
|
03.09.02.03.00
|
Дифрактометры отраженных быстрых электронов (для анализа поверхности), RHEED
|
03.09.03.00.00
|
Оборудование для дифракции нейтронов
|
03.09.04.00.00
|
Дифрактометры синхротронные и прочее оборудование с использованием синхротронного излучения
|
03.10.00.00.00
|
Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее
|
03.10.01.00.00
|
Квантометры
|
03.10.02.00.00
|
Рефрактометры
|
03.10.03.00.00
|
Полярографы
|
03.10.04.00.00
|
Приборы для термического анализа состава
|
03.10.04.01.00
|
Термовесы
|
03.10.04.01.01
|
Микро-термовесы
|
03.10.04.01.02
|
Термовесы с ИК-детектором отходящих газов
|
03.10.04.01.03
|
Термовесы с масс-спектральным анализом отходящих газов
|
03.10.04.01.04
|
Термовесы вакуумные
|
03.10.04.02.00
|
Дериватографы
|
03.10.05.00.00
|
Сенсоры и системы мультисенсорные
|
03.10.05.01.00
|
Сенсоры с чувствительностью к одному сорту веществ
|
03.10.05.01.01
|
Сенсоры газовые
|
03.10.05.01.02
|
Сенсоры жидкостные
|
03.10.05.01.03
|
Сенсоры для анализа твердых веществ
|
03.10.05.02.00
|
Системы мультисенсорные
|
03.10.05.02.01
|
Системы мультисенсорные для анализа газов (электронный нос)
|
03.10.05.02.02
|
Системы мультисенсорные для анализа растворов (электронный язык)
|
03.10.06.00.00
|
pH-метры
|
03.10.07.00.00
|
Вольтамперметры
|
03.10.08.00.00
|
Потенциометры для хим. анализа
|
03.10.09.00.00
|
CHNSO-анализаторы и аналогичные системы
|
03.10.10.00.00
|
Анализаторы газов специализированные
|
03.10.10.01.00
|
Анализаторы газов тепловые и магнитные
|
03.10.10.02.00
|
Анализаторы газов электрохимические и ионизационные
|
03.10.10.03.00
|
Анализаторы газов механические, звуковые и ультразвуковые
|
03.10.10.04.00
|
Анализаторы газов оптические
|
03.10.10.05.00
|
Анализаторы газов, основанные на комбинации методов измерения
|
03.10.10.06.00
|
Счетчики аэрозолей специализированные
|
03.10.10.07.00
|
Изделия комплектующие, имеющие самостоятельное значение, и оборудование вспомогательное к анализаторам газов
|
03.10.11.00.00
|
Анализаторы жидкостей
|
03.10.11.01.00
|
Анализаторы жидкостей тепловые и магнитные
|
03.10.11.02.00
|
Анализаторы жидкостей электрохимические
|
03.10.11.03.00
|
Анализаторы жидкостей механические, звуковые и ультразвуковые
|
03.10.11.04.00
|
Анализаторы жидкостей оптические
|
03.10.11.05.00
|
Анализаторы жидкостей, основанные на комбинации методов измерения
|
03.10.11.06.00
|
Изделия комплектующие, имеющие самостоятельное значение, и оборудование вспомогательное
|
03.11.00.00.00
|
Приборы радиационные аналитические
|
03.11.01.00.00
|
Приборы для активационного анализа
|
03.11.02.00.00
|
Приборы для рентгенорадиометрического анализа
|
03.11.03.00.00
|
Приборы для радиометрического анализа
|
03.11.04.00.00
|
Приборы для радиационного анализа
|
03.11.05.00.00
|
Приборы для гамма-резонансного анализа
|
03.11.06.00.00
|
Приборы комбинированные
|
03.12.00.00.00
|
Оборудование пробоподготовки
|
03.12.01.00.00
|
Системы пробоподготовки для микроскопии, спектроскопии поверхности и микроанализа, хроматографии
|
03.12.01.01.00
|
Системы пробоподготовки для микроскопии
|
03.12.01.01.01
|
Системы электролитической полировки и химического травления
|
03.12.01.01.02
|
Установки прецизионного ионного утонения
|
03.12.01.01.03
|
Вибротомы
|
03.12.01.01.04
|
Пистолеты биопсийные
|
03.12.01.01.05
|
Станции автоматические для проводки материалов
|
03.12.01.01.06
|
Гистопроцессоры микроволновые
|
03.12.01.01.07
|
Станции автоматизированные для интракардиальной перфузии
|
03.12.01.01.08
|
Термостаты для полимеризации блоков
|
03.12.01.01.09
|
Микротомы и ультрамикротомы
|
03.12.01.01.10
|
Криоультратомы
|
03.12.01.01.11
|
Станции для фиксации биоматериала
|
03.12.01.01.12
|
Устройства для нанесения проводящих покрытий
|
03.12.01.01.13
|
Устройства для нанопрототипирования
|
03.12.01.01.14
|
Системы пробоподготовки образцов для растровой микроскопии специальные
|
03.12.01.01.15
|
Системы пробоподготовки образцов для просвечивающей микроскопии специальные
|
03.12.01.01.16
|
Системы пробоподготовки для микроскопии прочие
|
03.12.01.02.00
|
Системы пробоподготовки для микроанализа
|
03.12.01.02.01
|
Системы пробоподготовки для микроанализа поверхности
|
03.12.01.02.02
|
Системы пробоподготовки для микроанализа размеров частиц
|
03.12.01.02.03
|
Системы пробоподготовки для микроанализа прочие
|
03.12.01.03.00
|
Системы пробоподготовки для спектроскопии
|
03.12.01.03.01
|
Системы микроволнового разложения
|
03.12.01.03.02
|
Системы разложения проб с нагревом
|
03.12.01.03.03
|
Устройства для таблетирования
|
03.12.01.03.04
|
Системы пробоподготовки для спектроскопии прочие
|
03.12.01.04.00
|
Системы пробоподготовки для хроматографии
|
03.12.01.04.01
|
Системы для автоматизации пробоподготовки методом гель-проникающей хроматографии
|
03.12.01.04.02
|
Хроматографические системы он-лайн пробоподготовки
|
03.12.01.04.03
|
Системы твердофазной экстракции
|
03.12.01.04.04
|
Автоматические экстракционные аппараты Сокслета
|
03.12.01.04.05
|
Системы концентрирования растворов вакуумные
|
03.12.01.04.06
|
Системы концентрирования растворов упариванием
|
03.12.01.04.07
|
Системы пробоподготовки для хроматографии прочие
|
03.12.01.05.00
|
Системы пробоподготовки для масс-спектрометрии
|
03.12.01.05.01
|
Системы пробоподготовки для масс-спектрометрии автоматические
|
03.12.01.05.02
|
Испарители растворителей автоматические
|
03.12.01.05.03
|
Системы фильтрационные пробоподготовки для масс-спектрометрии
|
03.12.01.05.04
|
Системы пробоподготовки для масс-спектрометрии прочие
|
03.12.01.06.00
|
Системы пробоподготовки для материалографии
|
03.12.02.00.00
|
Оборудование пробоподготовки прочее
|