МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ

Режим пропускания. Пропускание (T) является мерой снижения интенсивности излучения при данных длинах волн при прохождении излучения сквозь образец. Образец помещают в оптический луч между источником и детектором. Такое расположение применяется во многих традиционных спектрофотометрах. Полученный спектр может быть представлен непосредственно в виде графика зависимости пропускания (T) и/или поглощения (A) (ось y) от длины волны или волнового числа (ось x).

,

где: I - интенсивность падающего излучения;

I₀ - интенсивность прошедшего излучения.

.

Режим диффузного отражения. Режим диффузного отражения основан на измерении отражения (R) - отношения интенсивности света, отраженного от образца (I) к интенсивности света, отраженного от фона или стандартной отражающей поверхности (I_r). В зависимости от химического состава и физических характеристик образца, БИК излучение может проникать на более или менее существенное расстояние вглубь образца, где может быть поглощено колебательными комбинациями и обертонами аналита, присутствующего в образце. Непоглощенное излучение отражается от образца на детектор. БИК спектр отражения обычно получают путем расчета и построением графика зависимости log₁₀(1/R) (ось y) от длины волны или волнового числа (ось x).

,

где: I - интенсивность излучения, диффузно отраженного от образца;

I₀ - интенсивность излучения, диффузно отраженного от фона или отраженного от поверхности сравнения.

.

Режим пропускания-отражения. Этот режим является комбинацией пропускания и отражения. При измерении пропускания-отражения (T*) используется зеркало или диффузная отражающая поверхность для отражения излучения, прошедшего сквозь образец, второй раз, удваивая, таким образом, оптический путь. Непоглощенное излучение отражается от образца на детектор,

,

где: I_T - интенсивность прошедшего и отраженного излучения без образца;

I - интенсивность прошедшего и отраженного излучения, измеренная с образцом.

.