ОБОРУДОВАНИЕ

Оборудование размещают таким образом, чтобы защитить его от воздействия электрических помех, механических вибраций, температурных колебаний, влажности и прямого яркого света.

Схема прибора для лазерной дифракции представлена на рисунке 2.1.9.26.-1.

Рисунок 2.1.9.26.-1. - Схема прибора для определения размера частиц методом лазерной дифракции. 1 - источник лазерного излучения; 2 - модуль обработки лазерного излучения; 3 - частицы; 4 - рассеянный свет, не собранный линзой (6); 5 - рабочее расстояние линзы (6); 6 - линза Фурье; 7 - прямой луч; 8 - фокусное расстояние линзы (6); 9 - рассеянный луч; 10 - детектор затемнения, 11 - многоэлементный детектор

Взаимодействие луча падающего света и частиц дисперсной фазы приводит к образованию профиля рассеяния света с разными значениями интенсивности света при различных углах. Общее распределение угловой интенсивности, состоящее из прямого и рассеянного света, фокусируется линзой на многоэлементном детекторе. Линза создает профиль рассеяния света, который не зависит от расположения частиц в световом луче.

Работа прибора базируется на основных принципах рассеяния лазерного излучения при условии идеализированных свойств частиц, поэтому калибровка прибора перед измерением не требуется. Проверку правильности работы прибора можно осуществить путем измерения сертифицированного стандартного материала, состоящего из частиц известного распределения по размеру.

Работу прибора необходимо подтверждать через регулярные интервалы времени или с надлежащей частотой. Поверку системы производят с использованием контрольного материала, известного распределения по размеру. Средние значения трех измерений должны отличаться от установленного значения не более чем на 10% для x₅₀ и не более чем на 15% для x₁₀ и x₉₀. Для x < 10 мкм эти величины необходимо удвоить.